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Agarwal, B. K.:

X-Ray Spectroscopy. An Introduction. (=Springer Series in Optical Sciences; Vol. 15). - gebunden oder broschiert

1979, ISBN: 9783540092681

[PU: Springer Berlin], 418 S. Hardcover/ Pappband Guter Zustand/ Good With figures. Ex-Library., DE, [SC: 0.00], gewerbliches Angebot, [GW: 811g], Offene Rechnung, PayPal, Selbstabholung … Mehr…

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X-Ray Spectroscopy. An Introduction. (=Springer Series in Optical Sciences; Vol. 15). - gebunden oder broschiert

1979, ISBN: 9783540092681

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Agarwal, Bipin K.:
X-Ray Spectroscopy: An Introduction (Springer Series in Optical Sciences, 15) - Erstausgabe

1979

ISBN: 9783540092681

Gebundene Ausgabe

Springer, Gebundene Ausgabe, Auflage: 1, 433 Seiten, Publiziert: 1979-06-01T00:00:01Z, Produktgruppe: Buch, 1 kg, Physik, Naturwissenschaften & Technik, Kategorien, Bücher, Springer, 1979

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Agarwal, Bipin K:
X-Ray Spectroscopy: An Introduction (Springer Series in Optical Sciences) - gebunden oder broschiert

1979, ISBN: 9783540092681

Springer, Hardcover, Publiziert: 1979-07-17T00:00:01Z, Produktgruppe: Book, 0.45 kg, Physics, Science, Nature & Maths, Subjects, Books, Popular Science, Springer, 1979

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Agarwal, B. K.:
X-Ray Spectroscopy. An Introduction. (=Springer Series in Optical Sciences; Vol. 15). - gebunden oder broschiert

ISBN: 3540092684

418 S. Hardcover/ Pappband, [PU: Springer, Berlin/Heidelberg]

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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches

Details zum Buch
X-Ray Spectroscopy: An Introduction (Springer Series in Optical Sciences, 15)
Autor:
Titel:
ISBN-Nummer:

3540092684

Detailangaben zum Buch - X-Ray Spectroscopy: An Introduction (Springer Series in Optical Sciences, 15)


EAN (ISBN-13): 9783540092681
ISBN (ISBN-10): 3540092684
Gebundene Ausgabe
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 1979
Herausgeber: Springer

Buch in der Datenbank seit 2008-05-31T14:37:40+02:00 (Berlin)
Detailseite zuletzt geändert am 2023-08-19T23:41:40+02:00 (Berlin)
ISBN/EAN: 3540092684

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-540-09268-4, 978-3-540-09268-1
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: agarwal
Titel des Buches: ray spectroscopy, spring 1979

Daten vom Verlag:

Autor/in: Bipin K. Agarwal
Titel: Springer Series in Optical Sciences; X-Ray Spectroscopy - An Introduction
Verlag: Springer; Springer Berlin
420 Seiten
Erscheinungsjahr: 1979-06-01
Berlin; Heidelberg; DE
Gewicht: 0,760 kg
Sprache: Englisch
85,59 € (DE)
87,99 € (AT)
106,60 CHF (CH)
Not available, publisher indicates OP

BB; Book; Hardcover, Softcover / Physik, Astronomie/Atomphysik, Kernphysik; Atom- und Molekularphysik; Verstehen; quantum theory; scattering; Röntgenspektroskopie; photoelectron spectroscopy; spectroscopy; spectra; X-ray spectroscopy; C; Atomic, Molecular, Optical and Plasma Physics; Physics and Astronomy; BC; BC; EA

1. Continuous X-Rays.- 2. Characteristic X-Rays.- 3. Interaction of X-Rays with Matter.- 4. Secondary Spectra and Satellites.- 5. Scattering of X-Rays.- 6. Chemical Shifts and Fine Structure.- 7. Soft X-Ray Spectroscopy.- 8. Experimental Methods.- Appendix A Rutherford Scattering for Attractive Field.- A.1 Equation of Hyperbola.- A.2 Rutherford Scattering.- Appendix B Bohr’s Formula for Energy Loss.- Appendix C X-Ray Atomic Energy Levels.- Appendix D Electron Distribution among the Levels of Free Atoms.- Appendix E Curves Representing Values of Electron Energies.- Appendix F Quantization of the Electromagnetic Field.- Appendix G Dipole Sum Rule.- Appendix H Calculation of the Photoabsorption Coefficient.- Appendix I Screening Effect, According to Slater.- Appendix J Electronegativity Scale.- Wavelength Tables.- References.- Author Index.
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