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Scanning Probe Microscopy | Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy | Bert Voigtländer | Buch | NanoScience and Technology | HC runder Rücken kaschiert | XV | Englisch | 2015 - Voigtländer, Bert
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Voigtländer, Bert:

Scanning Probe Microscopy | Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy | Bert Voigtländer | Buch | NanoScience and Technology | HC runder Rücken kaschiert | XV | Englisch | 2015 - gebunden oder broschiert

2015, ISBN: 9783662452394

[ED: Gebunden], [PU: Springer Berlin], This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the read… Mehr…

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Scanning Probe Microscopy / Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy / Bert Voigtländer / Buch / NanoScience and Technology / HC runder Rücken kaschiert / XV / Englisch / 2015 - Voigtländer, Bert
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Scanning Probe Microscopy / Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy / Bert Voigtländer / Buch / NanoScience and Technology / HC runder Rücken kaschiert / XV / Englisch / 2015 - gebunden oder broschiert

2015, ISBN: 9783662452394

[ED: Gebunden], [PU: Springer Berlin], This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the read… Mehr…

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Scanning Probe Microscopy | Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy | Bert Voigtländer | Buch | NanoScience and Technology | HC runder Rücken kaschiert | xv | Englisch | 2015 - gebunden oder broschiert

2015

ISBN: 9783662452394

[ED: Gebunden], [PU: Springer Berlin], This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the read… Mehr…

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Scanning Probe Microscopy - neues Buch

2023, ISBN: 9783662452394

[ED: Buch], [PU: Springer Berlin Heidelberg], Neuware - This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is t… Mehr…

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Scanning Probe Microscopy - Taschenbuch

2015, ISBN: 9783662452394

*Scanning Probe Microscopy* - Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy. Auflage 2015 / gebundene Ausgabe für 170.99 € / Aus dem Bereich: Bücher, Wissenschaft, Technik Med… Mehr…

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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches

Details zum Buch
Scanning Probe Microscopy
Autor:
Titel:
ISBN-Nummer:

9783662452394


This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. The chapters on the scanning probe techniques are complemented by the chapters on fundamentals and important technical aspects. This textbook is primarily aimed at graduate students from physics, materials science, chemistry, nanoscience and engineering, as well as researchers new to the field.

Detailangaben zum Buch - Scanning Probe Microscopy


EAN (ISBN-13): 9783662452394
ISBN (ISBN-10): 3662452391
Gebundene Ausgabe
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 2015
Herausgeber: Springer Berlin Heidelberg

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ISBN/EAN: 9783662452394

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-662-45239-1, 978-3-662-45239-4
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: voigt, else voigtländer
Titel des Buches: tunneling, scanning force microscopy, voigtländer, atomic, probe aufnahmen, voigtlaender

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