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Feldman, Leonard C. & Mayer, James W:

Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis - gebunden oder broschiert

1986, ISBN: 9780444009890

Amsterdam, The Netherlands: North-Holland , 1970. Comprehensive text presents detailed technical papers by internationally acclaimed scientists covering a wide range of topics including: … Mehr…

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Feldman, L.C., Mayer, J.W.:

Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis - gebunden oder broschiert

1986, ISBN: 9780444009890

North Holland Publishing Company, 1986. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. … Mehr…

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L. C. Feldman; J. W. Mayer:
Fundamental of Surface and Thin Film Analysis - gebrauchtes Buch

ISBN: 0444009892

Fundamental of Surface and Thin Film Analysis chemistry,electrical and electronics,electromagnetism,engineering,math,mathematics,physics,science and math,science and math,solid-state phys… Mehr…

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Feldman:
Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis - gebunden oder broschiert

1992, ISBN: 0444009892

[EAN: 9780444009890], Used, good, [PU: Appleton & Lange], Mathematics|Advanced, Science|General, Technology|Material Science, Books

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Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis Feldman, Leonard C - neues Buch

ISBN: 0444009892

[EAN: 9780444009890], New book, New., Books, [PU: North-Holland]

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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches

Details zum Buch
Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis
Autor:
Titel:
ISBN-Nummer:

0444009892


This book focuses on the physics underlying techniques used to analyze the surface region of materials. It is a book written for the materials scientist interested in the use of electron spectroscopies or ion beam analysis for sample characterization, for the materials analyst who needs information on techniques that are available outside the laboratory, and particularly for students who will use this new generation of analytical techniques in their research.

Detailangaben zum Buch - Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis


EAN (ISBN-13): 9780444009890
ISBN (ISBN-10): 0444009892
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsjahr: 1992
Herausgeber: Appleton & Lange

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ISBN/EAN: 0444009892

ISBN - alternative Schreibweisen:
0-444-00989-2, 978-0-444-00989-0
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: feldman, mayer
Titel des Buches: fundamentals film thin analysis

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