Elektronen-Übermikroskopie - neues Buch

EAN (ISBN-13): 9783642473487
Erscheinungsjahr: 2013
Herausgeber: Springer-Verlag GmbH

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ISBN/EAN: 9783642473487

ISBN - alternative Schreibweisen:
978-3-642-47348-7
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: manfred von ardenne
Titel des Buches: elektronen

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Daten vom Verlag:

Autor/in: Manfred von Ardenne
Titel: Elektronen-Übermikroskopie - Physik · Technik · Ergebnisse
Verlag: Springer; Springer Berlin
396 Seiten
Erscheinungsjahr: 2013-03-13
Berlin; Heidelberg; DE
Sprache: Deutsch
33,26 € (DE)
33,26 € (AT)
47,68 CHF (CH)
Available
XVI, 396 S.

EA; E107; eBook; Nonbooks, PBS / Chemie/Physikalische Chemie; Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie; Verstehen; Bauelemente; Elektronenmikroskopie; Energie; Lichtmikroskop; Schaltung; Spule; Steuerung; Werkstoff; B; Spectroscopy; Electronics and Microelectronics, Instrumentation; Physics and Astronomy; Elektronik; BC

A. Allgemeine Grundlagen.- I. Eigenschaften der Elektronenstrahlung.- II. Elektrostatische Sammellinsen.- III. Magnetische Sammellinsen.- IV. Die Elektronenquelle.- V. Elektronenindikatoren.- B. Die theoretischen Grundlagen des Elektronenmikroskopes.- I. Wirkungsweise.- II. Die Grenzen für das Auflösungsvermögen.- C. Die theoretischen Grundlagen der Elektronensonden-Mikroskope.- I. Wirkungsweise.- II. Die Grenzen für das Auflösungsvermögen.- D. Elektronenstrahlung und Objekt.- I. Die durch Elektronenstreuung im Objekt verursachten Abbildungsfehler und ihr Verhältnis zueinander.- II. Die Größe der Objektbelastung.- III. Die Empfindlichkeit lebender Substanz gegen Elektronenbestrahlung.- E. Wichtige Größen für die Dimensionierung von Elektronenmikroskopen.- I. Die Größe und Abschirmung störender Magnetfelder.- II. Das Auflösungsvermögen photographischer Schichten für Elektronenstrahlung.- III. Das Auflösungsvermögen von Leuchtschirmen für Elektronenstrahlung.- IV. Die Abschirmung schädlicher Röntgenstrahlung.- F. Bauelemente und Hilfseinrichtungen der Elektronenmikroskope.- I. Das Kathodensystem.- II. Die kurzbrennweitigen Elektronenlinsen.- III. Die Objekthalterungen und Objektschleusen.- IV. Kamera und Photomaterialschleuse.- V. Blenden und Bohrvorrichtungen für kleinste Blendlöcher.- G. Die Vakuumtechnik der Elektronenmikroskope.- I. Das erforderliche Vakuum.- II. Die Pumpanlage.- III. Vakuummessung und Suche nach Undichtigkeiten.- IV. Vakuumtechnische Konstruktionselemente.- H. Die Hochspannungsanlagen der Elektronenmikroskope.- I. Die Messung von Schwankungen der Hochspannung.- II. Hochspannungsanlagen großer Spannungskonstanz.- J. Die praktische Ausführung des Elektronenmikroskopes.- I. Die Dimensionierung.- II. Die Gesamtkonstruktion.-III. Das Kondensorsystem.- IV. Das Objekt- und Objektivsystem.- V. Das Projektionslinsensystem.- VI. Die Kamera.- VII. Die Scharfstellung.- K. Die praktische Ausführung der Elektronensonden-Mikroskope.- I. Die Dimensionierung.- II. Herstellung der Elektronensonde.- III. Herstellung des Objektrasters beim Rastermikroskop.- IV. Die Registriereinrichtung der Sondenmikroskope.- V. Die Scharfstellung der Sondenmikroskope.- L. Objektpräparierungstechnik.- I. Die verschiedenen Arten elektronenmikroskopischer Präparate.- II. Die Keilschnittmethode zur Herstellung von Mikrotomschnitten mit weniger als 10?3 mm Stärke.- III. Objekte auf Folien.- IV. Die Verwendung der Strahlungssonden für Mikromanipulationen.- M. Die Bestimmung des Auflösungsvermögens.- I. Die verschiedenen Methoden.- II. Die praktische Durchführung der Bestimmung.- N. Stereo-Elektronenmikroskopie.- I. Die Grundlagen.- II. Verschiedene Anordnungen zur Gewinnung stereoskopischer Teilbilder bei Elektronenmikroskopen.- O. Die Ergebnisse der Elektronen-Übermikroskopie auf den verschiedenen Anwendungsgebieten.- I. Die Anwendung des Elektronenmikroskopes auf physikalische, chemische und technische Probleme.- II. Die Anwendung des Elektronenmikroskopes in Biologie und Medizin.- P. Namen- und Sachverzeichnis.