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Mikroprozessorsysteme
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Mikroprozessorsysteme - neues Buch

ISBN: 9783540129967

Mit dem Einzug der Mikroelektronik in fast aile Bereiche des taglichen Lebens muB die altbekannte Tatsache, daB samtliche elektronische Systeme Fehler aufweisen kcxmen starker berucksicht… Mehr…

Nr. A1024512594. Versandkosten:, , DE. (EUR 0.00)
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Mikroprozessorsysteme Zuverlässigkeit, Testverfahren, Fehlertoleranz - Hedtke, R.,
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Hedtke, R.,:

Mikroprozessorsysteme Zuverlässigkeit, Testverfahren, Fehlertoleranz - Taschenbuch

1984, ISBN: 3540129960

Softcover 206 S. Broschiert Ehem. Bibliotheksex. m. Stempel und Rückensign. Vereinzelte kleinere Anstreichungen und Marginalien möglich, ansonsten textsauberes Exemplar in gutem Zustand.… Mehr…

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Mikroprozessorsysteme : Zuverlässigkeit, Testverfahren, Fehlertoleranz. - Hedtke, Rolf
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Mikroprozessorsysteme : Zuverlässigkeit, Testverfahren, Fehlertoleranz. - gebrauchtes Buch

1984

ISBN: 3540129960

Broschiert. 203 S. : graph. Darst. 25 cm. Broschiert Einband leicht berieben. Stempel auf Titelei, ansonsten sehr gut erhalten. ISBN: 9783540129967 Mikroprozessor ; Technische Zuverlässi… Mehr…

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Mikroprozessorsysteme : Zuverlässigkeit, Testverfahren, Fehlertoleranz. - gebrauchtes Buch

1984, ISBN: 9783540129967

Berlin ; Heidelberg ; New York ; Tokyo, Springer, 203 S. : graph. Darst. 25 cm. Broschiert. Einband leicht berieben. Stempel auf Titelei, ansonsten sehr gut erhalten. ISBN: 9783540129967E… Mehr…

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Mikroprozessorsysteme : Zuverlässigkeit, Testverfahren, Fehlertoleranz. - gebrauchtes Buch

1984, ISBN: 9783540129967

Berlin ; Heidelberg ; New York ; Tokyo, Springer, 203 S. : graph. Darst. 25 cm. Broschiert. Einband leicht berieben. Stempel auf Titelei, ansonsten sehr gut erhalten. ISBN: 9783540129967E… Mehr…

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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches

Details zum Buch
Mikroprozessorsysteme: Zuverlässigkeit, Testverfahren, Fehlertoleranz
Autor:
Titel:
ISBN-Nummer:

3540129960


Technik + Technikgeschichte Hedtke, Rolf. Mikroprozessorsysteme. Zuverlässigkeit, Testverfahren, Fehlertoleranz. Berlin/Heidelberg/New York/Tokyo, Springer, 1984. 4°. 203 S. : 110 Abb. kart. Einband mit Knickfalte am rechten oberen Eck, ansonsten aber gutes Ex.

Detailangaben zum Buch - Mikroprozessorsysteme: Zuverlässigkeit, Testverfahren, Fehlertoleranz


EAN (ISBN-13): 9783540129967
ISBN (ISBN-10): 3540129960
Gebundene Ausgabe
Taschenbuch
Erscheinungsjahr: 1984
Herausgeber: Springer

Buch in der Datenbank seit 2009-05-09T13:45:18+02:00 (Berlin)
Detailseite zuletzt geändert am 2024-02-27T22:21:19+01:00 (Berlin)
ISBN/EAN: 3540129960

ISBN - alternative Schreibweisen:
3-540-12996-0, 978-3-540-12996-7
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: hedtke, wei wei
Titel des Buches: zuverlässigkeit, mikroprozessorsysteme

Daten vom Verlag:

Autor/in: R. Hedtke
Titel: Mikroprozessorsysteme - Zuverlässigkeit, Testverfahren, Fehlertoleranz
Verlag: Springer; Springer Berlin
206 Seiten
Erscheinungsjahr: 1983-12-01
Berlin; Heidelberg; DE
Gewicht: 0,420 kg
Sprache: Deutsch
54,99 € (DE)
56,53 € (AT)
58,11 CHF (CH)
POD
VI, 206 S.

BC; Mathematical and Computational Engineering; Hardcover, Softcover / Technik/Allgemeines, Lexika; Mathematik für Ingenieure; Verstehen; Bauelemente; Halbleiter; Materialprüfung; Mikroprozessor; Programmierung; Qualitätssicherung; Schaltkreise; Schaltung; Technische Zuverlässigkeit; Zuverlässigkeit; lineare Optimierung; Electronics and Microelectronics, Instrumentation; Mathematical and Computational Engineering Applications; Electronics and Microelectronics, Instrumentation; Elektronik; EA

1. Einleitung.- 2. Fehler in Mikrocomputerkomponenten.- 2.1 Fehlerursachen bei hochintegrierten MOS-Schltkreisen.- 2.2 Fehlerursachen bei bipolaren Schaltkreisen.- 2.3 Klassifizierung der Fehlerarten.- 2.4 Funktionsspezifische Ausfallursachen.- 3. Qualitätssicherung.- 3.1 Berechnung der Zuverlässigkeit von Bauelementen.- 3.2 Berechnung der Ausfallraten von LSI-Chips anhand des Integrationsgrads.- 3.3 Zeitabhängigkeit der Ausfallrate.- 3.4 Temperaturabhängigkeit der Ausfallrate.- 3.5 Zuverlässigkeitsvorhersage nach MIL-HDBK-217B.- 3.6 Bestimmen der Ausfallraten integrierter Bauteile durch Materialprüfungen.- 3.7 Fehlerraten von Mikrocomputerelementen.- 3.8 Stichprobenprüfungen.- 4. Testverfahren bei integrierten Schaltkreisen.- 4.1 Bausteintest.- 4.2 Testfreundliche Strukturen.- 4.3 Testverfahren bei Mikroprozessorsystemen.- 4.3.1 Mikroprozessorselbsttest.- 4.3.2 Speichertest.- 4.3.3 Peripherietest.- 5. Der Einfluß des Hardwareentwurfs auf die Systemzuverlässigkeit.- 5.1 Zusammenschalten von Bauteilen.- 5.2 Probleme bei der Stromversorgung.- 5.3 Probleme bei Leitungen.- 5.4 Spezielle Probleme mit Schaltkreisen.- 6. Der Einfluß des Softwareentwurfs auf die Systemzuverlässigkeit.- 6.1 Strukturierte Programmierung.- 6.2 Testmustererzeugung.- 6.3 Programmredundanz.- 7. Redundanztechniken.- 7.1 Grundlagen.- 7.2 Methoden zur Fehlererkennung.- 7.3 Statische Redundanz.- 7.4 Dynamische Redundanz.- 7.5 Hybride Redundanz.- 7.6 Vergleich der Redundanzverfahren.- 8. Fehlererkennende und -korrigierende Codes.- 8.1 Zuverlässigkeitsberechnung von Halbleiterspeichem.- 8.2 Grundlagen fehlererkennender und -korrigierender Codes.- 8.3 Codierverfahren für parallele Datenübertragung und Speicherung.- 8.3.1 Darstellung des Korrekturverfahrens in Matrixform.- 8.3.2 Hammingeode.- 8.3.3 Hardware-optimierter SEC-DED-Code.- 8.4 Codierverfahren für serielle Datenübertragung und Speicherung.- 8.4.1 Grundlagen zyklischer Codes.- 8.4.2 Schaltungen für zyklische Codes.- 8.4.3 Beispiele zyklischer Codes.- Stichwortverzeichnis.

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