2005, ISBN: 9783527310524
Gebundene Ausgabe
Buch, Hardcover, 1. Auflage, With contributions by Paul F. Fewster and Christoph Genzel While X-ray diffraction investigation of powders and polycrystalline matter was at the forefront o… Mehr…
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2005, ISBN: 9783527310524
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Wiley-VCH, Gebundene Ausgabe, Auflage: 1. 378 Seiten, Publiziert: 2005-10-26T00:00:01Z, Produktgruppe: Buch, Hersteller-Nr.: Illustrations, 1.64 kg, Medizin, Kategorien, Bücher, Astronomi… Mehr…
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2005, ISBN: 9783527310524
Wiley-VCH, Hardcover, 378 Seiten, Publiziert: 2005-12-23T00:00:01Z, Produktgruppe: Book, Hersteller-Nr.: Illustrations, 0.76 kg, Verkaufsrang: 5982970, Polymers & Textiles, Materials & Ma… Mehr…
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2006, ISBN: 9783527310524
Vch Verlagsgesellschaft Mbh, 2006. Hardcover. New. illustrated edition. 378 pages. 9.50x6.75x0.75 inches., Vch Verlagsgesellschaft Mbh, 2006, 6
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Birkholz, Mario:
Thin Film Analysis by X-Ray Scattering: Techniques for Structural Characterization - Erstausgabe2005, ISBN: 9783527310524
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2006, ISBN: 9783527310524
Vch Verlagsgesellschaft Mbh, 2006. Hardcover. New. illustrated edition. 378 pages. 9.50x6.75x0.75 inches., Vch Verlagsgesellschaft Mbh, 2006, 6
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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches
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ISBN-Nummer: |
Detailangaben zum Buch - Thin Film Analysis by X-Ray Scattering
EAN (ISBN-13): 9783527310524
ISBN (ISBN-10): 3527310525
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsjahr: 2005
Herausgeber: Wiley-VCH
400 Seiten
Gewicht: 0,868 kg
Sprache: Englisch
Buch in der Datenbank seit 2007-06-12T18:22:32+02:00 (Berlin)
Detailseite zuletzt geändert am 2023-05-08T00:09:43+02:00 (Berlin)
ISBN/EAN: 3527310525
ISBN - alternative Schreibweisen:
3-527-31052-5, 978-3-527-31052-4
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: birkholz, genzel, frankfurt oder, christoph paul, mario
Titel des Buches: characterization, structural, thin film analysis ray scattering, structura, thin was, birkholz
Daten vom Verlag:
Autor/in: Mario Birkholz
Titel: Thin Film Analysis by X-Ray Scattering
Verlag: Wiley-VCH; Wiley-VCH
356 Seiten
Erscheinungsjahr: 2005-10-26
Gedruckt / Hergestellt in Deutschland.
Gewicht: 0,752 kg
Sprache: Englisch
173,80 € (DE)
170mm x 240mm x 25mm
BB; Hardcover, Softcover / Chemie; Werkstoffprüfung; Verstehen; Analytical Chemistry; Analytische Chemie; Chemie; Chemistry; Dünne Schicht; Dünne Schichten, Oberflächen u. Grenzflächen; Electrical & Electronics Engineering; Elektrotechnik u. Elektronik; Festkörperchemie; Festkörperphysik; Halbleiter; Materials Characterization; Materials Science; Materialwissenschaften; Oberflächen- u. Kolloidchemie; Oberflächenchemie; Physical Chemistry; Physikalische Chemie; Semiconductors; Solid State Chemistry; Surface & Colloid Chemistry; Thin Films, Surfaces & Interfaces; Werkstoffprüfung; Analytische Chemie; Physikalische Chemie; Oberflächen- u. Kolloidchemie; Festkörperchemie; Halbleiter; Dünne Schichten, Oberflächen u. Grenzflächen; Werkstoffprüfung
While X-ray diffraction investigation of powders and polycrystalline matter was at the forefront of materials science in the 1960s and 70s, high-tech applications at the beginning of the 21st century are driven by the materials science of thin films. Very much an interdisciplinary field, chemists, biochemists, materials scientists, physicists and engineers all have a common interest in thin films and their manifold uses and applications. Grain size, porosity, density, preferred orientation and other properties are important to know: whether thin films fulfill their intended function depends crucially on their structure and morphology once a chemical composition has been chosen. Although their backgrounds differ greatly, all the involved specialists a profound understanding of how structural properties may be determined in order to perform their respective tasks in search of new and modern materials, coatings and functions. The author undertakes this in-depth introduction to the field of thin film X-ray characterization in a clear and precise manner.Weitere, andere Bücher, die diesem Buch sehr ähnlich sein könnten:
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