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Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope (Topics in Geobiology) - R.F. Egerton
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ISBN: 0306452235

[SR: 8796835], Hardcover, [EAN: 9780306452239], Springer, Springer, Book, [PU: Springer], 1996-05-31, Springer, 277912, Biological Sciences, 277972, Animal Sciences, 277913, Biochemistry,… Mehr…

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[SR: 6855426], Hardcover, [EAN: 9780306452239], Springer, Springer, Book, [PU: Springer], Springer, The Second Edition explores several new applications of EELS developed during the last … Mehr…

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1996, ISBN: 9780306452239

[ED: 2], 2nd Revised edition, Hardcover, Buch, [PU: Plenum Publishing Co.,N.Y.]

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Bibliographische Daten des bestpassenden Buches

Details zum Buch
Electron Energy-loss Spectroscopy in the Electron Microscope
Autor:
Titel:
ISBN-Nummer:

0306452235


PWithin the last 30 years, electron energy-loss spectroscopy has become a standard analytical technique used in the transmission electron microscope to extract chemical and structural information down to the atomic level. EMElectron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope/EM has become the standard reference guide describing the instrumentation, physics, and procedures involved and the kind of results obtainable. /PP/PPWithin the last few years, lens-aberration correctors and electron-beam monochromators have become commercially available and have further increased the spatial and energy resolution of EELS. The third edition will include these new developments, as well as advances in electron-scattering theory, spectral and image processing, and recent applications in fields such as nanotechnology./P TOC:PChapter 1: An Introduction to Electron Energy-Loss Spectroscopy/PPChapter 2: Instrumentation for EELS/PPChapter 3: Physics of Electron Scattering/PPChapter 4: Quantitative Analysis of Energy-Loss Data/PPChapter 5: Applications/PPAppendices: Relativistic Bethe Theory, Computer programs, Tables of Plasmon and Edge energies, electron wavelengths etc./P

Detailangaben zum Buch - Electron Energy-loss Spectroscopy in the Electron Microscope


EAN (ISBN-13): 9780306452239
ISBN (ISBN-10): 0306452235
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsjahr: 1996
Herausgeber: Plenum Publishing Co.,N.Y.
500 Seiten
Gewicht: 0,906 kg
Sprache: eng/Englisch

Buch in der Datenbank seit 2008-01-22T20:29:25+01:00 (Berlin)
Detailseite zuletzt geändert am 2019-04-19T12:05:13+02:00 (Berlin)
ISBN/EAN: 0306452235

ISBN - alternative Schreibweisen:
0-306-45223-5, 978-0-306-45223-9
Alternative Schreibweisen und verwandte Suchbegriffe:
Autor des Buches: egerton
Titel des Buches: microscope, electron energy loss spectroscopy

Daten vom Verlag:

Autor/in: R.F. Egerton
Titel: Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope
Verlag: Springer; Springer US
485 Seiten
Erscheinungsjahr: 1996-05-31
New York; NY; US
Gewicht: 1,930 kg
Sprache: Englisch
85,59 € (DE)
87,99 € (AT)
106,60 CHF (CH)
Not available, publisher indicates OP

BB; Book; Hardcover, Softcover / Biologie/Allgemeines, Lexika; Biologie, Biowissenschaften; Verstehen; computing partial ionization cross-sections; electron microscope; EELS materials science book; materials science; Analytical Electron Microscopy book; spectroscopy; image-filtering systems; Inelastic scattering of electrons; microscopy; spectrum deconvolu; C; Biological Microscopy; Biomedical and Life Sciences; Analytical Chemistry; Atomic, Molecular, Optical and Plasma Physics; Characterization and Evaluation of Materials; Wissenschaftliche Ausstattung, Experimente und Techniken; Analytische Chemie; Atom- und Molekularphysik; Werkstoffprüfung; BB; BC; EA

1. An Introduction to Electron Energy-Loss Spectroscopy.- 2. Instrumentation for Energy-Loss Spectroscopy.- 3. Electron Scattering Theory.- 4. Quantitative Analysis of the Energy-Loss Spectrum.- 5. Applications of Energy-Loss Spectroscopy.- Appendix A. Relativistic Bethe Theory.- Appendix B. Computer Programs.- B.1. Matrix Deconvolution.- B.2. Fourier-Log Deconvolution.- B.3. Kramers—Kronig Analysis and Thickness Determination.- B.4. Fourier-Ratio Deconvolution.- B.5. Incident-Convergence Correction.- B.9. Lenz Elastic and Inelastic Cross Sections.- B.10. Conversion between Oscillator Strength and Cross Section.- B.11. Conversion between Mean Energy and Inelastic Mean Free Path.- Appendix C. Plasmon Energies of Some Elements and Compounds.- Appendix D. Inner-Shell Energies and Edge Shapes.- Appendix E. Electron Wavelengths and Relativistic Factors; Fundamental Constants.- References.

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